當前位置:首頁 > 產品中心 > 可程式恒溫恒濕試驗箱 > 快溫變高低溫試驗箱 > AP-HX-225C6高低溫試驗箱(xiang)熱轉(zhuan)印標識牌(pai)
詳細介紹
品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 儀器種類 | 臺式 |
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產地類別 | 國產 | 價格區間 | 1萬-5萬 |
應用領域 | 建材,電子,交通,印刷包裝,紡織皮革 | 內尺寸 | 500*600*500mm |
高低溫試驗箱熱轉印標識牌是一種用于測試熱轉印標識牌在高低溫環境下的性能表現的設備。這種試驗箱通過模擬溫度條件,對標識牌進行加熱和冷卻,以評估其在不同溫度下的耐久性、穩定性和可靠性。
作原理:該試(shi)驗箱通過內部加(jia)熱(re)和制冷系統,實(shi)現高(gao)溫(wen)和低溫(wen)環(huan)境的模擬。標識牌被放置在試(shi)驗箱內,經過一定時間(jian)的加(jia)熱(re)或冷卻,以測(ce)試(shi)其在不同溫(wen)度下的表現。
內容(rong)積225L
內箱尺寸 500*750*600mm (W* H *D)
外型(xing)尺寸(約) 1050*1850*1100mm (W* H *D)
重 量(liang) 約280㎏
溫度范圍 -60℃~+150 ℃ (風冷(leng)式)
降溫速率(lv) RT~-60℃(空載(zai))約1℃/min
升溫(wen)速率(lv) RT~+150℃(空載(zai))約3℃/min
溫度穩定度 ±0.5℃
溫度(du)解(jie)析精度(du) 0.01℃
溫度均勻度 <2.0℃
溫度(du)偏差±2℃
配備先進的控(kong)制(zhi)系統,可以(yi)**控(kong)制(zhi)溫度、濕(shi)度和時間等參數。用戶可以(yi)根據(ju)需要設定測試程(cheng)序,并實(shi)時監控(kong)測試過程(cheng)。
通過高低溫試驗箱熱轉印標識牌的測試,可以了解標識牌在不同溫度環境下的性能變化,為產品的設計、生產和應用提供重要參考。這種設備在標識牌制造、質量檢測以及產品改進等方面具有廣泛的應用價值。
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