當前位置:首頁 > 產品中心 > 可程式恒溫恒濕試驗箱 > 快溫變高低溫試驗箱 > AP-HX-150C3熱轉印標識(shi)牌高低(di)溫試驗箱(xiang)
簡要描述(shu):熱(re)轉印標(biao)(biao)識(shi)牌(pai)高(gao)低(di)溫試驗(yan)箱(xiang)是一種(zhong)用(yong)于測試熱(re)轉印標(biao)(biao)識(shi)牌(pai)在(zai)高(gao)低(di)溫環境下(xia)的(de)性(xing)能表現的(de)設(she)備(bei)。這種(zhong)試驗(yan)箱(xiang)通過模(mo)擬溫度(du)條件,對標(biao)(biao)識(shi)牌(pai)進行加熱(re)和冷卻,以評估其在(zai)不同(tong)溫度(du)下(xia)的(de)耐久(jiu)性(xing)、穩定性(xing)和可靠性(xing)。
詳細介紹
品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 儀器種類 | 臺式 |
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產地類別 | 國產 | 價格區間 | 1萬-5萬 |
應用領域 | 建材,電子,交通,印刷包裝,紡織皮革 | 內尺寸 | 500*600*500mm |
熱轉印標識牌高低溫試驗箱是(shi)一種(zhong)用(yong)于(yu)測試(shi)熱轉印標識牌在高低(di)溫環(huan)境下的(de)性能表現的(de)設備。這種(zhong)試(shi)驗(yan)箱通(tong)過(guo)模擬溫度條件,對(dui)標識牌進行加(jia)熱和冷卻,以(yi)評(ping)估其在不同溫度下的(de)耐久性、穩(wen)定(ding)性和可(ke)靠性。
作(zuo)原理:該試(shi)驗箱通過內部加熱(re)和(he)制冷(leng)(leng)系統,實現(xian)高溫(wen)和(he)低溫(wen)環境的(de)模擬。標識牌被放置(zhi)在(zai)試(shi)驗箱內,經(jing)過一定時(shi)間的(de)加熱(re)或冷(leng)(leng)卻,以測試(shi)其(qi)在(zai)不同溫(wen)度下的(de)表現(xian)。
內容積(ji)150L
內箱(xiang)尺寸(cun) 500*600*500mm (W* H *D)
外型尺寸(約) 1050*1650*1050mm (W* H *D)
重 量 約250㎏
溫(wen)度范圍 -60℃~+150 ℃ (風冷式)
降溫速(su)率 RT~-60℃(空(kong)載)約1℃/min
升溫速率 RT~+150℃(空載(zai))約(yue)3℃/min
溫度(du)(du)穩定度(du)(du) ±0.5℃
溫度解析(xi)精度 0.01℃
溫度(du)均(jun)勻(yun)度(du) <2.0℃
溫度偏(pian)差±2℃
通過熱轉印標識牌高低溫試驗箱的(de)測試,可以(yi)了(le)解標識(shi)牌(pai)在不同溫度(du)環境下的(de)性能變化(hua),為(wei)產品的(de)設計、生產和應用提供重要參考(kao)。這種設備在標識(shi)牌(pai)制造、質量檢測以(yi)及產品改進等方(fang)面具有廣泛的(de)應用價值。
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