一、可程式冷熱沖擊試驗機產品名稱三箱冷熱沖擊試驗機（風冷式）

二、產品型號3AP-CJ-80A

三、設備用途：廣(guang)泛用于電(dian)(dian)子(zi)電(dian)(dian)器零組(zu)件塑(su)膠等(deng)行(xing)業、自動化(hua)(hua)零部件、通(tong)訊組(zu)件、汽車(che)配件、金屬、化(hua)(hua)學(xue)材(cai)料、塑(su)料等(deng)行(xing)業，國(guo)防工(gong)業、航天、兵工(gong)業、BGA、PCB基(ji)扳、電(dian)(dian)子(zi)芯片IC、半(ban)導體陶磁及(ji)(ji)高(gao)分子(zi)材(cai)料之(zhi)物理(li)性變化(hua)(hua)進行(xing)試(shi)驗(yan)，用來測試(shi)材(cai)料結構或(huo)復合材(cai)料，在(zai)瞬間下經*溫及(ji)(ji)極低溫的(de)連續環(huan)境下所(suo)能忍受的(de)程(cheng)度，藉以在(zai)最短(duan)時間內試(shi)驗(yan)其熱脹(zhang)冷縮所(suo)引起(qi)的(de)化(hua)(hua)學(xue)變化(hua)(hua)或(huo)物理(li)變化(hua)(hua)。

四、是光電、金屬、光伏、塑料、硅膠、電器、橡膠、電子等工作材料或者工業行業的試驗設備。

五、有(you)以下優勢：  

1.采(cai)用微電腦大型(xing)液晶LCD觸摸屏中英文(wen)可隨意切換顯示(shi)的控制器作為(wei)主要系統。  

2.此試(shi)驗設備的(de)(de)箱體(ti)分(fen)為(wei)(wei)三部分(fen)，分(fen)別為(wei)(wei)低(di)溫儲蓄冷(leng)量(liang)區(冷(leng)沖(chong)擊(ji)時(shi)(shi)用)，高溫儲蓄熱(re)量(liang)區(熱(re)沖(chong)擊(ji)時(shi)(shi)用)，產(chan)品測試(shi)擺放區(冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗時(shi)(shi)用)，測試(shi)產(chan)品*靜止(zhi)的(de)(de)擺放在產(chan)品測試(shi)擺放區的(de)(de)隔層(ceng)架(jia)上，通過控制器指令把冷(leng)溫或者(zhe)熱(re)溫通過氣體(ti)找開閥門快速灌進(jin)來(lai)從而(er)達到沖(chong)擊(ji)的(de)(de)目的(de)(de)。  

3.此試(shi)(shi)驗(yan)(yan)設(she)備還可設(she)定高(gao)溫(wen)(wen)、低(di)溫(wen)(wen)及高(gao)低(di)溫(wen)(wen)沖(chong)(chong)擊(ji)三種不同試(shi)(shi)驗(yan)(yan)條件的功(gong)能做(zuo)測試(shi)(shi)，執行高(gao)低(di)溫(wen)(wen)沖(chong)(chong)擊(ji)或才(cai)冷(leng)熱沖(chong)(chong)擊(ji)條件時(shi)，可選擇兩箱式(shi)或三箱式(shi)的結構，除了可以做(zuo)快速沖(chong)(chong)擊(ji)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)效(xiao)果外(wai)還并(bing)具(ju)有高(gao)低(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱的普(pu)通功(gong)能。  

4.高(gao)程(cheng)序(xu)記憶(yi)容(rong)量，可(ke)設定(ding)儲存100組(zu)程(cheng)序(xu)。  

5.具有RS-232C通信接(jie)口裝置，還可以(yi)加配USB直接(jie)用(yong)U盤(pan)導出測(ce)試數據，使用(yong)便捷。  

6.冷熱沖擊(ji)試驗設備故(gu)障時(shi)，配有(you)自動機(ji)回路及警示訊號。發現輸入電力不穩定時(shi)，具有(you)緊(jin)急停機(ji)裝置。  

7.具備(bei)全自動，高精度系統(tong)回(hui)路(lu)，任一機(ji)件動作，*由P.L.C.鎖定處理(li)。

六、容積、尺寸(cun)和重量

6.1.內容積80L

6.2.內箱尺寸400*500*400mm   　 (W* H *D)

6.3.外型(xing)尺寸(約(yue))1550*1850*1600mm   (W* H *D)

6.4.重  量約900㎏

七、可程式冷熱沖擊試驗機性能指標

7.1.測試環(huan)境(jing)條(tiao)件機器周(zhou)圍環(huan)境(jing)溫度(du)維持在(zai)+25~+30℃之(zhi)間(jian)，相對濕(shi)度(du)：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

7.2.滿足(zu)標準(zhun) .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高溫(wen)試(shi)驗方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖(chong)擊試驗Test of temperature shock

·;GJB360.7-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度(du)沖擊試驗Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室溫度范圍-40℃～+150 ℃ (風冷式)

7.3.1.低溫沖擊范圍(wei)-10℃～-40 ℃  

7.3.2.高溫沖(chong)擊(ji)范圍60℃～150 ℃  

7.4.高(gao)溫室(shi)

7.4.1.預熱溫度范圍(wei)RT～+165℃

7.4.2.升溫(wen)時間

+50℃→+165 ≤30min

注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能

7.5.低溫室(shi)

7.5.1.預冷(leng)溫度范圍RT～-55℃

7.5.2.降溫時間+20℃ → -55℃≤約(yue)60min

注：降溫(wen)時間為低溫(wen)室單獨運轉時的性能

7.6.試驗室（試樣區）

7.6.1.試(shi)驗方式(shi)采用*之蓄熱(re)、蓄冷結構，強制冷熱(re)風路(lu)切換方式(shi)導入(ru)測(ce)試(shi)區(qu)(qu)，沖擊時高溫(wen)區(qu)(qu)或(huo)低溫(wen)區(qu)(qu)的溫(wen)度沖入(ru)測(ce)試(shi)區(qu)(qu)進行(xing)沖擊,冷熱(re)溫(wen)度沖擊測(ce)試(shi)。

7.6.2.溫度波動度±0.5℃

7.6.3.溫(wen)度偏差(cha)±2.0℃

7.6.5.溫(wen)(wen)度恢(hui)復時間(jian)3~5min；轉換溫(wen)(wen)度只需要(yao)≤10s（風門(men)開啟時間(jian)：5秒以內(nei)）

7.7.沖擊暴露時間≥30min。